锐峰先科技术有限公司

新一代可集成干涉＋共聚焦测量头

 

Smart 2 是一款集成的干涉＋共聚焦测量头，当客户对横向分辨率、准确性和重复性有高要求的标准时，面测量是重要的测量技术。强大的功能和紧凑的设计使其成为光学领域的重要突破。为了易于集成，测量头包含了计算核心及所有电子设备。除了干涉测量 (CSI / ePSI), Smart 2 还拥有另外两项光学成像技术: Ai多焦面叠加和共聚焦，以允许客户使用最适合测量技术进行扫描。

 

真正的面测量系统

 

S mart 2 是一款面测量系统。与点或线测量方式不同，面测量意味着它可以一次对整个区域进行成像, 因此在X 和 Y方向上的横向分辨率保持一致。此外, 我们的区域测量可追溯到由 PTB、NPL 或 NIST 等测量机构认证的校准样品。

为了能够对不同特征的样品扫描成像，在同一个测量头中，Smart 2 配备了三种技术: Ai多焦面叠加、共聚焦和干涉测量。

 

易于安装，易于连接

 

可集成头的形状经过精心设计，以改善系统的适配性。 与早期型号相比，其设计更窄，进而允许集成头不会干扰到用户或制造操作。

 

S mart 2 的设计非常易于集成，包括计算核心在内的所有电子设备都在测量头内部，这样的设计使得安装 Sensofar 系统非常的方便简单。S mart 2 只有两个接口：网线和电源。

 

只需在表面聚焦，其余的工作Smart 传感器将自动完成。我们的传感器产品组合旨在满足生产线通常所需的自动化。用户只需单击一下即可完成测量：传感器将自动找到焦点，并优化照明和扫描范围，用户将自动得到定制化的结果报告。