SQ3000 DD 3D AOI 自动光学检测系统
SQ3000 DD 是高速度和高精度的双轨道-双传感器检查系统，由2个MRS传感器驱动。双轨道、双传感器系统良好的灵活性，以满足不同的PCB宽度。这种独特的设计提供了检查大产量组件的能力，方便了在不同的轨道上同时检查不同的组件和不同尺寸的电路板，甚至能够从双车道切换到单轨道模式来非常大尺寸的电路板。
SQ3000 多功能 AOI, SPI & CMM 自动光学检测系统
SQ3000 是一个一体化的解决方案，它配备了强大的工具，涵盖了AOI、SPI和CMM应用的检查和测量。对于大尺寸的基板，SQ3000™ X 提供了最大可以支持 710 x 610 mm 基板尺寸的能力。
SQ3000+ 多功能 AOI, SPI & CMM 自动光学检测系统
SQ3000+ 多功能系统配置了多重反射抑制(MRS) 传感器技术，为检测和计量提供了高分辨率、高精度和高速度的良好结合。SQ3000+ 是一款能够在线执行AOI、SPI和CMM的系统。该系统是专门为高端应用而设计的，包括先进封装、迷你LED、先进的SMT、008004/0201 SPI、插座测量和其他具有挑战性的CMM应用。
WX3000 3D & 2D 测量和检测系统
WX3000 3D 和 2D 测量和检测系统为晶圆级和先进封装的应用提供了高速、高分辨率和高精度的良好组合，以提高良品率和生产率。