离线X光检测
灵活的X光检测解决方案
Quadra 5 Pro 提供出色的功能和亚微米图像质量。 Quadra 5 Pro 与 Quadra 7 Pro 共享许多相同的配件，包括 µCT 采集阶段、X 射线剂量过滤和薄样品托盘。
Quadra 5 Pro 代表了 X 射线检测性能的前沿。 3.3 MP 超高质量图像以全一对一分辨率显示在单个曲面超宽显示器上，确保您清晰地看到系统强大的功能。
Quadra 5 Pro X 射线检测系统适用于亚微米材料的应用，如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。
广泛应用
• 球栅阵列（BGA ）
• 四方扁平无引脚（QFN ）
• 四方扁平封装（QFP ）
• 堆叠式封装（POP ）
• 印刷电路板/印刷电路板组装（PCB / PCBA ）
• 集成电路（IC）
• 半导体封装
• 微电机系统（MEMS ，MOEMS ）
• 电源管理集成电路（PMIC’s ）/ IGBT
• 扇出型晶圆级封装（FO-WLP ）
• 3D堆叠封装
• 高性能内存
• 连接器
• 底部端接元器件（BTC ）
• 射频设备
• 焊盘分析
• 铜柱
• 微米级球体
• 镀通孔（PTH ）
• 焊线分析
核心技术
• 定制密封式透射管
• 全功率高特征分辨率
• 可连续服务，无需定时更换灯丝
• 为电子产品市场量身打造
• 可长期使用的先进CMOS传感器
• 快速/锐利/清晰/动态
• 数字化控制
• 可在未来选配增强功能
• 适用期和性能的完全控制
• 直观的用户体验
• 滤镜库和自动检测程序
• 快速实时图像处理
规格参数
| Onyx HL 检测器 |
| 像素分辨率 |
3.3 MP |
| 帧率 |
25 fps |
| 有效像素尺寸 |
70µm |
| QuadraNT X射线管 |
| 类型 |
Mk4 20W密封式透射管 |
| 特征分辨率 |
<300nm (低于10W 时） |
| 最大靶功率 |
20W |
电压： |
30 - 160千伏 |
| 检测 |
| 斜角视图 |
2 X 70° - 无需旋转样品，可实现样品360° 观察 |
| 防振 |
主动减震 |
| 可检测区域 |
510 x 445 mm (20 x 17.5英寸） |
| 几何放大倍率 |
2500倍＋数码放大 |
图像色深 |
16位 |
| 显示器 |
38英寸超宽显示器 (3840 X 1660) |
| 系统 |
| 设备尺寸 |
1570(宽）X 1500(深）X 1900(高）mm |
| 系统重量 |
1950 kg |
| 电源 |
单项200至230V交流电，50/60Hz, 16A |
| 能耗 |
1kW |
气源 |
5-8 巴清洁干燥的空气，用于防振 |
| 运行温度 |
10-30°C |
| 湿度 |
<85% (无冷凝水附着） |
| 操作方式 |
鼠标点击 |
| 软件 |
Revalution |
| 操作系统 |
Windows 64位操作系统 |
| X 射线安全性 |
<1微西弗/小时，符合所有相关的国际标准 |
| 可选配件 |
| X-Plane |
无需额外硬件实现平面 CT扫描 |
| µCT |
使用µCT平台，创建高分辨率的三维模型 |
| 条形码读取器 |
轻松完成产品追溯 |
| 操纵杆 |
USB 接口的操纵杆模块 |
辐射过滤盘 |
降低样品暴露于X射线下的剂量 |
| 晶圆托盘 |
用于放置300mm和200mm 晶圆
|
