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DAGE X光检查机产品概述：
Dage X光检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计，并且采用了符合人体工程学的设计，可提供高分辨率纳米级焦距 X射线系统，不仅可用于实验室故障分析，也可用于生产环境。

 

产品型号：

 

1.DAGE XD7500VR Jade FP X光检查机

 

XD7500VR Jade FP配备开放式透射型 X 射线管，是一种用于PCBA 生产质量控制的经济效益型设备。

 

高分辨率 - 950nm (0.95um) 特征识别
最高电压160KV，标靶功率: 3W
高倍放大 - 1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率
最大检测样品尺寸：736 x 580 mm

 

Dage VR 开放式 X 射线管是 DAGE XD7500VR X 射线检测系统的核心部件。该产品为偏向保留开放式管技术的客户提供了入门级系统。它可实现：30 - 160 kV 下，950 nm 级特征识别，最高功率可达 3W

 

2.DAGE Quadra 3 Pro X光检查机 - 具有检测到 0.75um 缺陷的功能。

 

Quadra 3 Pro 拥有强大的X射线检测性能，设备可以拍摄高达—百六十万像素的超高品质 X光图像， 并点对点地显示在—个超宽曲面显示器上。我们用先进的科技，确保锐利的画质，不让您错过任何细节。

 

系统规格：

X射线管类型：Mk4 15W密封式透射管
特征分辨率：<750nm
最大靶功率：15W
电压：30 - 160千伏
像索分辨率：1.6 MP
检测区域：510 x 445 mm (20 x 17.5英寸）
几何放大倍率：2000倍
设备尺寸：1570(宽）X 1500(深）X 1900(高）mm
系统重量：1950 kg

 

3.DAGE Quadra 5 Pro X光检查机 - 具有检测到 0.3um 缺陷的功能。

 

Quadra 5 Pro 提供出色的功能和亚微米图像质量。 Quadra 5 Pro 与 Quadra 7 Pro 共享许多相同的配件，包括 µCT 采集阶段、X 射线剂量过滤和薄样品托盘。

 

系统规格：

X射线管类型：Mk4 20W密封式透射管
特征分辨率：<300nm (低于10W 时）
最大靶功率：20W
电压：30 - 160千伏
像索分辨率：3.3 MP
检测区域：510 x 445 mm (20 x 17.5英寸）
几何放大倍率：2500倍＋数码放大
设备尺寸：1570(宽）X 1500(深）X 1900(高）mm
系统重量：1950 kg

 

4.DAGE Quadra 7 Pro X光检查机 - 具有检测到<0.1um 缺陷的功能。

 

Quadra 7 Pro拥有强大的X射线检测性能。

 

Quadra Pro 系列可生成良好的超高清图像。内部设计的高性能双模式 NT4 X 光管和 Onyx 检测器可让您看到非常微小的细节，并立即发现缺陷。一切清晰立现。

 

系统规格：

X射线管类型：DAGE Mk4 双模式 20W
特征分辨率：<100nm (低于10W 时）
最大靶功率：20W
电压：30 - 160千伏
像索分辨率：6.5 MP
检测区域：510 x 445 mm (20 x 17.5英寸）
几何放大倍率：2500倍＋数码放大
系统放大倍数：68,000倍
设备尺寸：1570(宽）X 1500(深）X 1900(高）mm
系统重量：1950 kg

 

5.DAGE XD7800NT Ruby XL X光检查机 - 大板应用解决方案

DAGE XD7800NT Ruby XL X光检查机是用于大尺寸样品的X光无损检测的系统，检测区域范围可达 96 x 67 cm (37.9” x 26.4”) ，是大板应用的理想解决方案。
0.5 µm 特征识别可实现PCBA级质量控制、封装级检测和故障分析。

 

优点

Nordson DAGE NT500 免维护、密封传送型 X 射线管
经验证的 < 0.5 μm 特征识别 160 kV 管（10 W 靶功率）
始终保留次微米能力
Nordson DAGE 2 Mpixel 25fps XiDAT3 数字图像增强仪，提供实时图像增强功能
几何放大 1,800 X，系统 7,800 X 以及总计 23,400 X 数字放大
最大检测尺寸 1205 x 672 mm
70° 斜角视图，而不会损失放大
两个 24” TFT LCD 监视器
AXiS - 主动式 X 射线图像稳定
对于自动执行检测任务，不要求具有编程技能

 

Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。